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多功能超聲波測厚儀CMXDL+

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西安亞偉儀器設備有限公司

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產(chǎn)品簡介

多功能超聲波測厚儀CMXDL+美國DAKOTA公司CMXDL+多功能超聲波測厚儀，帶A/B掃描功能，可測量材料的厚度，穿透涂層測量材料厚度，也可以測量涂層的厚度

詳細介紹

多功能超聲波測厚儀CMXDL+

美國DAKOTA公司CMXDL+多功能超聲波測厚儀，帶A/B掃描功能，可測量材料的厚度，穿透涂層測量材料厚度，也可以測量涂層的厚度。用戶可根據(jù)需求選擇不同的功能配置。
標準版為灰度顯示屏，可選彩屏版。

	儀器特點

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100MHz FPGA時序電路設計
可選彩色和灰度顯示屏
A/B掃描
手動調(diào)節(jié)增益和自動增益控制 (AGC)，范圍：110dB
自動時間相關(guān)增益(TDG)
多種測量模式
脈沖-回波(P-E)模式：測量材料厚度
脈沖-回波涂層(PECT)模式：同時測量材料和涂層厚度
脈沖-回波溫度補償(PETP)模式：測量材料厚度
回波-回波(E-E)模式：穿過涂層測量材料厚度
回波-回波驗證(E-EV)模式：穿過涂層測量材料厚度
測量涂層(CT)模式：只測量涂層厚度
可接雙晶探頭和單晶探頭(包括延遲塊探頭、接觸式探頭、筆形探頭)
USB Type-C數(shù)據(jù)接口
內(nèi)置4GB SD存儲卡

	技術(shù)參數(shù)

	測量
	脈沖-回波(P-E)模式測量范圍：0.63mm～30.48m(鋼) 脈沖-回波涂層(PECT)模式測量范圍：0.63mm～30.48m(鋼)，0.0254~2.54mm(涂層) 脈沖-回波溫度補償(PETP)模式測量范圍：0.63mm～30.48m(鋼) 回波-回波(E-E)模式測量范圍：2.54～152.4mm(鋼，穿過涂層測量，隨涂層厚度的不同，測量范圍也會變化) 回波-回波驗證(E-EV)模式測量范圍：2.54～102mm(鋼，穿過涂層測量，隨涂層厚度的不同，測量范圍也會變化) 測量涂層(CT)模式測量范圍：0.0127~2.54mm(涂層) 分辨率：0.01mm 聲速范圍：309.88～18542m/s 單位：公制或英制校準：一點和兩點校準方式
	顯示
	顯示屏：1/8英寸VGA灰色顯示，240x160象素?？梢晠^(qū)62x45.7mm，EL背光；可選1/4英寸彩色顯示屏，320x240象素 A-掃描方式：檢波+/-(缺陷視場)，RF(全波視場)。刷新頻率25Hz/60Hz(彩色顯示屏)?？v向和橫向視圖(彩色顯示屏) B-掃描方式：基于時間的橫截面視圖。顯示速度為每秒10到200個讀數(shù) 大數(shù)字方式：標準厚度顯示，數(shù)字高度17.78mm/14.35mm(彩色顯示屏) 厚度條形掃描：速度10Hz，在B-掃描和大數(shù)字顯示中可見穩(wěn)定度指示：表示測量值的穩(wěn)定性功能狀態(tài)指示：顯示當前的功能
	超聲波參數(shù)
	測量模式：P-E、PECT、PETP、E-E、E-EV、CT 脈沖：可調(diào)方波脈沖發(fā)生器接收：根據(jù)選擇模式在110dB范圍內(nèi)采用手動或AGC增益控制，阻抗50~1500Ω可調(diào) 計時：單次100MHz8位超低功耗數(shù)字化儀TCXO計時脈沖重復頻率：250Hz
	探頭
	頻率范圍：1~20MHz 雙晶探頭和單晶探頭(延遲塊、接觸式、筆式) LEMO接口，1.2米探頭線可定制用于特殊應用的探頭
	存儲
	容量：內(nèi)置4GB SD卡數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)：網(wǎng)格(字母數(shù)字)和順序(自動識別) 截屏功能：位圖圖形捕獲，用于快速記錄數(shù)據(jù)輸出：通過USB Type-C連接的計算機
	功能
	設置：64個用戶定義設置，用戶也可編輯出廠設置探頭類型可選：內(nèi)置雙路誤差校正，提高線性度模式：上下限視聽快速掃描模式：每秒250個讀數(shù)，當探頭離開時顯示小值
	其他
	鍵盤：12個觸摸鍵電源：標配為三節(jié)5號堿性電池，可選鎳鎘電池或鋰電池。電量狀態(tài)指示。無操作五分鐘后自動關(guān)機。USB Type-C供電外殼：擠壓鋁機殼，底蓋用鍍鎳鋁板加密封墊封裝工作溫度：-10～60℃ 尺寸重量：63.5x165x31.5mm，含電池385g 包裝：ABS工程塑料箱出廠證書：工廠校準可追溯到NIST和MILSTD-45662A標準

	雙晶探頭

型號	頻率	探頭晶片直徑	探頭防磨面直徑	測量范圍	說明
PT-102-2900	5.0MHz	6.35mm	9.53mm	1.0～152mm	標準CT探頭(可測涂層厚度)
PT-101-2900	5.0MHz	4.76mm	6.35mm	1.0～50mm	小管徑CT探頭
PT-102-3300	7.5MHz	6.35mm	9.53mm	0.63～152mm	薄探頭
PT-104-2900	5.0MHz	12.7mm	15.88mm	1.27～508mm	厚CT探頭
PT-042-2000	5.0MHz	6.35mm	9.53mm	1.0～152mm	標準高溫探頭，340℃
PT-044-2000	5.0MHz	12.7mm	15.88mm	1.27～508mm	厚高溫探頭，340℃
PT-212-2001	5.0MHz	6.35mm	9.53mm	1.0～152mm	高溫探頭，480℃
PT-214-2001	5.0MHz	12.7mm	15.88mm	1.27～508mm	厚高溫探頭，480℃

注：測試高溫表面時需用高溫耦合劑

	單晶探頭

探頭型號	頻率	描述	說明
PT-402-5507	15MHz	晶片?6.35mm	標準延遲塊探頭
PT-402-6507	20MHz	晶片?6.35mm	延遲塊探頭
PT-4903-2875	5MHz	晶片?3.18mm，防磨面?6.35mm	接觸式探頭
PT-4903-4875	10MHz	晶片?3.18mm，防磨面?6.35mm	接觸式探頭
PT-4023-2855	5MHz	晶片?6.35mm，防磨面?9.53mm	接觸式探頭
PT-4023-4855	10MHz	晶片?6.35mm，防磨面?9.53mm	接觸式探頭
PT-481-4507	10MHz	延遲塊前端?1.59mm	筆式探頭