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FISCHERSCOPE XDAL X射線熒光測試儀

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產(chǎn)品型號FISCHERSCOPE XDAL X射線熒光測試儀

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更新時間：2025-03-11 10:24:14瀏覽次數(shù)：12次

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北京八零時代科技發(fā)展有限公司

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產(chǎn)品簡介

介紹FISCHERSCOPEXDALX射線熒光測試儀

詳細介紹

介紹

FISCHERSCOPE XDAL X射線熒光測試儀，帶有可編程的 X/Y平臺和Z軸，可自動測量鍍層厚度和分析材料組分
FISCHERSCOPE XDAL X射線熒光測試儀特點
配備了半導體探測器，由于有更好的信噪比，能更精確地進行元素分析和薄鍍層測量
使用微聚焦管可以測量較小的測量點，但因為其信號量較低，不適合測量十分細小的結(jié)構(gòu)
底部C型開槽的大容量測量艙
有彈出功能的快速、可編程XY平臺
FISCHERSCOPE XDAL X射線熒光測試儀典型應用領(lǐng)域
鍍層和合金的材料分析（還適用于薄鍍層和低含量成分）
來料檢驗，生產(chǎn)監(jiān)控
研究和開發(fā)
電子工業(yè)
接插件和觸點
黃金、珠寶和鐘表工業(yè)
可以測量數(shù)納米薄的鍍層，如印刷線路板和電子元器件上的Au和Pd鍍層
痕量元素分析
在有“高可靠性"要求的應用中確定鉛（Pb）含量
硬質(zhì)鍍層分析