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原子力顯微鏡FM-Nanoview 1000AFM

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產(chǎn)品簡介

原子力顯微鏡FM-Nanoview1000AFM一、主要特點1.光機電一體化設(shè)計，外形結(jié)構(gòu)簡單

詳細介紹

原子力顯微鏡FM-Nanoview 1000AFM

一、主要特點

1.光機電一體化設(shè)計，外形結(jié)構(gòu)簡單；

2.掃描探頭和樣品臺集成一體，抗干擾能力強；

3.精密激光檢測及探針定位裝置，光斑調(diào)節(jié)簡單，操作方便；

4.采用精密探針定位模塊，更換探針簡單方便

5.采用樣品趨近探針方式，使針尖垂直于樣品掃描；

6.伺服馬達手動或自動脈沖控制，驅(qū)動樣品垂直接近探針，實現(xiàn)掃描區(qū)域精確定位；

7.高精度大范圍的樣品移動裝置，可自由移動感興趣的樣品掃描區(qū)域；

8.高精度大范圍的壓電陶瓷掃描器，根據(jù)不同精度和掃描范圍要求選擇；

9.帶光學(xué)定位的CCD觀察系統(tǒng)，實時觀測與定位探針掃描樣品區(qū)域

10.模塊化的電子控制系統(tǒng)設(shè)計，便于電路的持續(xù)改進與維護；

11.集成多種掃描工作模式控制電路，配合軟件系統(tǒng)使用。

12.彈簧懸掛式防震方式，簡單實用，抗干擾能力強

二、友好的軟件界面及操作功能

1. 可自由選擇圖像采樣點為256×256或512×512

2. 多通道圖像同步采集顯示，實時查看剖面圖

3. 可進行掃描區(qū)域偏移、剪切功能，任意選擇感興趣的樣品區(qū)域

4. 可任意選擇樣品起始掃描角度

5. 激光光斑檢測系統(tǒng)的實時調(diào)整功能

6. 可任意定義掃描圖像的色板功能

7. 支持樣品傾斜線平均、偏置實時校正功能

8. 支持掃描器靈敏度校正和電子學(xué)控制器自動校正

9. 支持樣品圖片離線分析與處理功能

三、技術(shù)規(guī)格

名稱	參數(shù)	名稱	參數(shù)
工作模式	1. 接觸、輕敲、相位、摩擦力、磁力或靜電力	掃描角度	任意
樣品尺寸	Φ≤90mm；H≤20mm	樣品移動范圍	0～20mm
*大掃描范圍	橫向20um，縱向2um	馬達趨近脈沖寬度	10±2m
掃描分辨率	橫向0.2nm，縱向0.05nm	光學(xué)放大倍數(shù)	4X
掃描速率	0.6Hz~4.34Hz	光學(xué)分辨率	2.5um
掃描控制	XY采用18-bit D/A Z采用16-bit D/A	圖像采樣點	256×256，512×512
數(shù)據(jù)采樣	14-bit A/D、雙16-bit A/D 多路同步采樣	反饋方式	DSP數(shù)字反饋
計算機接口	USB2.0	反饋采樣速率	64.0KHz
運行環(huán)境	運行于WindowsXP/7/8操作系統(tǒng)